- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/20058 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p.ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en utilisant la réflexion de la radiation par les matériaux en mesurant la diffraction des électrons, p.ex.la diffraction d’électrons lents [LEED] ou la diffraction d’électrons de haute énergie en incidence rasante [RHEED]
Détention brevets de la classe G01N 23/20058
Brevets de cette classe: 57
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
Proprétaire |
Total
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Cette classe
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FEI Company | 851 |
6 |
The Regents of the University of California | 18943 |
3 |
Fyzikalni Ustav AV CR, V.v.i. | 36 |
3 |
Oxford Instruments NanoTechnology Tools Limited | 145 |
3 |
Riken | 1669 |
3 |
Tescan Group, A.S. | 20 |
3 |
Samsung Electronics Co., Ltd. | 131630 |
2 |
International Business Machines Corporation | 60644 |
2 |
Commissariat à l'énergie atomique et aux energies alternatives | 10525 |
2 |
Bruker Nano GmbH | 63 |
2 |
JEOL Ltd. | 556 |
2 |
Ivworks Co., Ltd. | 25 |
2 |
LG Chem, Ltd. | 17205 |
1 |
Merck Patent GmbH | 5909 |
1 |
Hitachi High-Technologies Corporation | 2034 |
1 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | 10902 |
1 |
Mitsubishi Electric Corporation | 43934 |
1 |
California Institute of Technology | 3884 |
1 |
Shimadzu Corporation | 5791 |
1 |
Battelle Energy Alliance, LLC | 569 |
1 |
Autres propriétaires | 16 |